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提升汽车电子部件的性能和可靠性:SIR表面绝缘电阻测试
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离子迁移检测仪——CAF试验
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环境或自身产生的高温对多数元器件将产生严重影响,进而引起整个电子设备的故障。一方面,电子元件的“10度法则”指出,电子元件的故障发生率随工作温度的提高呈指数增长,温度每升高10℃,失
广州SIR绝缘电阻测试咨询 服务为先 广州维柯信息供应
(1)CAF、SIR等测试是IPC、IEC等国际标准的**内容,为PCB企业进入**市场(如医疗设备、5G基站)提供资质保障。(2)IPC-TM-650、IEC61189等标准将CAF、SIR等纳入可靠性测试框架,推动行业规范化。
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