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设计和构建电路板可能不依赖于洞察力，但它需要PCB可靠性预测。对于这些预测，您对任何未来生产的目标结果都将包括对可靠性的期望。这一要求对于关键的PCBA开发领域尤其如此，例如航天,医疗设备和汽车系统;然而，它在某种程度上适用于所有
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电子产品故障追溯案例中，大量现场失效根源来自PCB在湿热、偏压环境下缓慢发生的离子迁移、CAF漏电、通孔互连劣化，这类隐性缺陷无法依靠常规AOI、ICT、单点绝缘检测提前识别，等到产品交付终端客户之后爆发故障，品牌信誉和经济损失难
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广州维柯信息技术有限公司PCB可靠性测试系统支持比较高256通道并行监测，多组PCB试样同步开展长期应力试验，通道之间相互独立，互不干扰，非常适合多变量对比试验，方便研发人员同时对比不同板材、助焊剂、清洗工艺、钻孔参数对PCB可靠
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在PCB可靠性长期测试项目中，很多测试失败并非PCB样品本身问题，而是测试硬件引入噪声、通道漏电、串扰，造成SIR高阻测试数据失真，出现大量假失效，带来不必要的复测成本。高阻SIR测试对线缆绝缘、开关单元漏电流控制要求较高，普通线
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一家第三方CNAS认可检测实验室，需要承接大量PCB可靠性委托测试，采购广州维柯PCB可靠性测试系统搭建SIR‑CAF‑RTC检测工位。PCB可靠性测试系统符合IPC‑TM‑650标准，报告带完整操作日志，满足实验室体系管控要求。
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